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翟秋福. X-射线荧光光谱分析地质化探样中主要和痕量元素[J]. 岩矿测试, 1987, (2): 113-116.
引用本文:
翟秋福. X-射线荧光光谱分析地质化探样中主要和痕量元素[J]. 岩矿测试, 1987, (2): 113-116.
X-射线荧光光谱分析地质化探样中主要和痕量元素
翟秋福
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岩石化探样中主要和痕量元素的测定,目前多半以ICP或XRF法为主,二种测试手段各有优势。本文应用8680X-射线光谱仪测定氧化镁,氧化铝,氧化硅,磷,氧化钾,氧化钙,氧化铁,氧化钠,钛,锰,锌,钒,铬,铷,铌,钇,锶,锆等元素。8680型系顺序/多道复合式X-射线光谱仪。试验证明,本方法简易、快速,结果满意。方法的变动系数最大为14.24%(Nb=15ppm),最小为0.01%(SiO2=77.27%)。
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