摘要: X—射线荧光光谱中,直接压饼或四硼酸锂熔饼法,具有简便、快速的优点,但测定～10ppm以下含量的稀土元素是相当困难的。 用离子交换纸制样,X—射线荧光光谱测定稀土元素及钪,可降低检测限至0.xppm,甚至更低。 与中子活化法,同位素稀释质谱法相比,本法价廉、方便、快速。与国内同类方法相比,本法取样少,分析周期短,易掌握。