• 中文核心期刊
  • 中国科技核心期刊
  • CSCD来源期刊
  • DOAJ 收录
  • Scopus 收录

粉末压片制样-波长色散X射线荧光光谱法测定进口铜矿石中的氟

唐梦奇, 刘顺琼, 袁焕明, 谢毓群, 刘国文, 罗明贵

唐梦奇, 刘顺琼, 袁焕明, 谢毓群, 刘国文, 罗明贵. 粉末压片制样-波长色散X射线荧光光谱法测定进口铜矿石中的氟[J]. 岩矿测试, 2013, 32(2): 254-257.
引用本文: 唐梦奇, 刘顺琼, 袁焕明, 谢毓群, 刘国文, 罗明贵. 粉末压片制样-波长色散X射线荧光光谱法测定进口铜矿石中的氟[J]. 岩矿测试, 2013, 32(2): 254-257.
Meng-qi TANG, Shun-qiong LIU, Huan-ming YUAN, Yu-qun XIE, Guo-wen LIU, Ming-gui LUO. Determination of Fluorine in Import Copper Ores by Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometry with Pressed Powder Preparation[J]. Rock and Mineral Analysis, 2013, 32(2): 254-257.
Citation: Meng-qi TANG, Shun-qiong LIU, Huan-ming YUAN, Yu-qun XIE, Guo-wen LIU, Ming-gui LUO. Determination of Fluorine in Import Copper Ores by Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometry with Pressed Powder Preparation[J]. Rock and Mineral Analysis, 2013, 32(2): 254-257.

粉末压片制样-波长色散X射线荧光光谱法测定进口铜矿石中的氟

基金项目: 

广西自然科学基金项目(桂科自0991295);广西出入境检验检疫局科研项目(2011K015)

广西自然科学基金项目 桂科自0991295

广西出入境检验检疫局科研项目 2011K015

详细信息
    作者简介:

    唐梦奇,工程师,从事X射线荧光光谱和X射线衍射分析工作。E-mail: tangmeng773@163.com

  • 中图分类号: P578.11;O613.41;O657.34

Determination of Fluorine in Import Copper Ores by Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometry with Pressed Powder Preparation

  • 摘要: 地质样品中氟的测定主要采用氟离子选择电极法,但操作复杂、分析时间长,无法满足大量进口铜矿石检测的需求。熔融制样-X射线荧光光谱法可用于测定铜矿石中的主次量成分,但不能测定氟。本文采用粉末压片制样,波长色散X射线荧光光谱测定进口铜矿石中氟的含量。以15个粒度为0.074 mm的实际进口铜矿石样品建立标准曲线,经验系数法校正基体效应,有效地降低了颗粒度效应、矿物效应和基体效应。方法的精密度为0.30%(RSD,n=11),检出限为2.4 μg/g,测定范围为0.030%~0.20%。用标准物质验证,测定结果与标准物质的认定值相符;用实际样品验证,测定结果与氟离子选择电极法的测定值相符,能满足进口铜矿石中氟(限量不大于0.10%)日常分析检验的要求。
  • 石膏是非金属矿产的典型代表,因其具有高强度、高绝缘性、耐高温、耐酸碱等诸多优良的理化性能,广泛应用于建筑、化工和中医等诸多领域。石膏已成为我国重点发展的非金属矿物之一,其中一些元素的含量对其品质有一定影响。例如Ca、S的含量是判别石膏品级的主要依据,建筑用石膏对Si、Al、K、Na的含量要求较高,硫酸工业中所用石膏对Mg的含量有限制,用于制造模型的石膏对Fe、Ti等元素的含量,医用石膏对微量元素Sr的含量都有要求。因此,准确测定石膏中主次量元素的含量对于石膏矿石的开发利用具有十分重要的意义。

    石膏的成分分析通常采用化学法,如S用重量法测定,Ca、Mg、Al用EDTA容量法测定,Si、Fe用分光光度法测定。化学法的分析周期长、操作繁琐、试剂用量大。相比之下,X射线荧光光谱法(XRF)因绿色环保、制样简单、分析速度快,在主次量元素同时分析方面一直具有显著的技术优势。非金属矿物的XRF分析技术已有报道,但鲜有应用于石膏的报道。应用XRF分析非金属矿物时,通常采用熔融法制备样品[1, 2, 3],既能够消除矿物效应和粒度效应,降低基体的影响,还可以避免粉末制样法因粉末散落对X光管和试样室清洁度及真空度的影响[4, 5]。考虑到硫元素在高温下熔融时会挥发,袁秀茹等[6]分析白云岩采用粉末压片法对硫进行测试,其他元素则采用熔融法制样;刘江斌等[7]测定石灰石也是采用粉末压片法对硫进行测试,其他元素则采用熔融法制样。但是压制相应的样品需要更多的分析步骤,增加了工作量。李国会等[8]选用四硼酸锂-偏硼酸锂熔剂并加入硝酸锂氧化剂在1000℃熔融制样,防止了硫的熔融损失,而且能使各类岩石样品制成高质量的玻璃样片;宋义等[9]也采用四硼酸锂-偏硼酸锂并加入硝酸锂氧化剂在1000℃熔融制样,有效地降低了熔点,避免了熔融制样过程中硫的挥发;应晓浒等[10]采用四硼酸锂-偏硼酸锂在1000℃制备氟石熔融片,有效地抑制了样品中硫的挥发;李红叶等[11]采用四硼酸锂-偏硼酸锂在1050℃熔融制备样品,用XRF测定磷矿石中包括硫在内的13种主次量组分,取得了较好的分析结果。但是上述文献中硫元素的测定范围(0.01%~10.00%)比较窄,无法满足石膏中高含量硫(25.58%~58.82%)的测定需求。此外,石膏标准物质匮乏,难以建立适合各元素测量范围和梯度的标准曲线。

    针对应用XRF分析石膏存在标准物质匮乏和硫含量较高在高温易挥发损失的问题,本文采用高纯硫酸钙、石膏标准物质与土壤、岩石、水系沉积物、碳酸盐等标准物质配制相应的人工标准物质;选用四硼酸锂-偏硼酸锂熔剂熔融制备石膏样品,有效地抑制样品中硫的挥发,同时消除样品的粒度效应和矿物效应,建立了XRF测定石膏矿中10个主次量元素(硅铝铁钙镁钾钠钛硫锶)的分析方法。

    Axios PW型波长色散X射线荧光光谱仪(荷兰帕纳科公司),最大功率4.0 kW,最大激发电压60 kV,最大电流125 mA,SST超尖锐陶瓷端窗(75 μm)铑钯X射线光管,样品交换器一次最多可放68个样品(直径32 mm),SuperQ 5.0高级智能化操作软件。各元素的测量条件见表 1。

    表  1  分析元素的测量条件
    Table  1.  Measurement conditions of the elements by XRF
    元素分析
    谱线
    分析
    晶体
    准直器
    (μm)
    探测器电压
    (kV)
    电流
    (mA)
    2θ(°)PHD范围
    峰值背景1背景2
    SiPE 002300Flow30120109.07822.3010-24~78
    AlPE 002300Flow30120144.86642.4946-1.881822~78
    FeLiF 200150Duplex606057.51060.8464-15~72
    CaLiF 200150Flow30120113.11561.6210-29~73
    MgPX1700Flow3012022.55201.6984-2.065435~65
    KLiF 200300Flow30120136.69702.0160-31~74
    NaPX1700Flow3012027.28382.2178-1.774235~72
    TiLiF 200300Flow606086.1606-1.4094-27~71
    SGe 111300Flow30120110.66982.6996-35~65
    SrLiF 200150Scint606025.13320.6856-22~78
    下载: 导出CSV 
    | 显示表格

    Front-Ⅱ电热式熔片机(国家地质实验测试中心 & 北京卓信博澳仪器有限公司研制):一次可以同时熔融4个玻璃片。

    铂黄合金坩埚(95% Pt+5% Au):用于制备熔融玻璃片。

    四硼酸锂-偏硼酸锂(质量比22:12) 熔剂:高纯试剂(张家港市火炬分析仪器厂生产),在650℃马弗炉内烘4 h,冷却备用。

    饱和溴化锂溶液(脱模剂)。

    准确称取0.6500 g样品和5.8500 g四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂于瓷坩埚中,搅拌均匀,倒入铂黄合金坩埚中,加入1滴饱和溴化锂溶液,放入已升温至1050℃的熔样机中按照设定程序全自动熔融玻璃片。熔样程序为:样品预熔2 min,上举1.5 min,摆平0.5 min,往复4次(在此期间熔样机内部不停旋转)后取出,冷却后贴标签放入干燥器待测。

    由于地质样品基体复杂,测量结果易受基体效应的影响,因此在XRF分析中保持基体的一致性是准确分析的重要因素。依据石膏矿物组分特征及含量范围,本研究采用高纯硫酸钙、石膏标准物质(GBW03109a、GBW03111a)与土壤(GBW07401~GBW07411)、岩石(GBW07101~GBW07112)、水系沉积物(GBW07301~GBW07302)、碳酸盐岩(GBW07127~GBW07136) 国家一级标准物质,配制相应的人工标准样品SG1~SG12。各元素的含量范围(%)为:SiO2 0.295~36.59,Al2O3 0.042~14.98,Fe2O3 0.036~13.40,CaO 10.00~49.24,MgO 0.173~13.00,K2O 0.006~1.52,Na2O 0.005~1.84,TiO2 0.002~4.13,SO3 12.60~51.91,SrO 0.002~0.183。

    熔样之前需要选定合适的熔剂,以使熔剂和石膏样品的酸度相适宜,本研究根据能量最低原理[12]选定适合熔融石膏样品的四硼酸锂-偏硼酸锂(质量比22:12) 作为熔剂。

    石膏样品中的待测元素含量相差较大,为了准确测量,对样品与熔剂的稀释比(样品与熔剂的质量比)进行了试验。低倍稀释时,样品流动性较差;高倍稀释时,样品中低含量元素强度太低,精密度较差。本研究最终选择m(样品):m(熔剂)=1:9的稀释比熔融样品,所制备的样品均匀、浓度适中、能够兼顾不同元素、不同含量的测定。

    称取5件不同含量的石膏样品,分别在950℃、1000℃、1050℃、1100℃、1150℃温度下按1.2节所述实验方案熔融样品,样品熔融情况见表 2。可以看出,样品在1050℃以上时均能熔清。

    表  2  不同温度下样品的熔融情况
    Table  2.  The melting effect of samples at different temperatures
    样品编号950℃1000℃1050℃1100℃1150℃
    样品1有不熔物熔清熔清熔清熔清
    样品2有不熔物熔清熔清熔清熔清
    样品3有不熔物熔清熔清熔清熔清
    样品4有不熔物有不熔物熔清熔清熔清
    样品5有不熔物熔清熔清熔清熔清
    下载: 导出CSV 
    | 显示表格

    在高温下熔融含硫的矿物时,会出现硫损失和热稳定性的问题。因此称取石膏标准物质GBW03109a和GBW03111a分别在1050℃、1100℃、1150℃、1200℃、1250℃温度下熔融并进行硫的荧光强度测定,结果表明温度在1050~1150℃范围内,硫的荧光强度变化不大,分别在226~229 kcps(GBW03109a)、172~176 kcps(GBW03111a)之间波动;在1200℃时,硫的荧光强度明显减弱,到1250℃时,硫的荧光强度分别降至106 kcps(GBW03109a)、102 kcps(GBW03111a)。这表明当温度不高于1150℃时,石膏矿中的硫在熔融过程中基本没有挥发损失,可能是因为石膏中的硫主要以硫酸盐形式存在,可以在此温度下保持稳定[13, 14, 15];另外,熔剂中含有碱性的偏硼酸锂能够很好地结合强酸性的SO3,从而将硫保留在玻璃熔片中。考虑到高温时熔样机和铂黄合金坩埚的损耗较大,故选择熔矿温度为1050℃。

    用熔融法制样虽然消除了粒度、矿物效应及减小了基体效应,但由于石膏中各组分的含量变化很大,仍需采用理论α系数进行基体效应校正。校正公式如下:

    式中:wi为未知样品中分析元素i的含量;Di为分析元素i校准曲线的截矩;Lik为干扰元素k对分析元素i的谱线重叠干扰校正系数;Zk为干扰元素k的含量或计数率;Ei为分析元素i校准曲线的斜率;Ri为分析元素i的计数率;Zj为共存元素j的含量;n为共存元素j的数目;α为基体校正因子;i、j和k分别为分析元素、共存元素和干扰元素。

    标准化样品用来修正环境条件及仪器的微小变化对分析结果的影响。标准化样品的含量过高,其计数率高,在校正系数中不能很好地反映仪器的较大变化;标准化样品的含量太低,其计数率低,校正系数会扩大仪器的微小变化,从而造成较大的分析误差。漂移校正样品可单独准备,制备方法与样品制备方法相同,也可直接从绘制标准曲线的标准样品中选取,本文直接从标准样品中选取一个含量适中的样品作为标准化样品,每次校准前制备标准化样品。

    根据分析元素的测量时间,按下列公式计算各元素的检出限(LOD),计算结果见表 3。

    表  3  方法检出限
    Table  3.  Detection limits of the method
    元素检出限(μg/g)元素检出限(μg/g)
    本法相关方法本法相关方法
    SiO213542~400K2O1835~400
    Al2O312677~400Na2O7589~400
    Fe2O31718~400TiO22561~500
    MgO3098~283SO37692
    CaO79181~500SrO46~61
    下载: 导出CSV 
    | 显示表格

    式中:m为单位含量的计数率;Ib为背景计数率;t为峰值及背景的总测量时间。

    从表 3可以看出,方法检出限为4~135 μg/g,基本低于相关方法的检出限,可以满足石膏样品中主次量元素的测试需求。

    一个样品多次制样和多次测量的结果稳定性反映了分析方法的可行性以及制样过程的可重复性和可操作性。采用玻璃熔片法对一个石膏样品重复制备12个样片,按表 1的测量条件分别对12个样片进行测量,然后将其中的一个样片重复测量12次。由表 4分析结果可知,仪器精密度(RSD)均低于1%;除了含量较低的Na2O、TiO2、SrO等元素的RSD不高于3%以外,其余元素的RSD均低于1%,能够满足实际样品的分析需求。

    表  4  方法精密度
    Table  4.  Precision tests of the method
    元素仪器精密度方法精密度
    12次测定平均值
    (%)
    RSD
    (%)
    12次测定平均值
    (%)
    RSD
    (%)
    SiO27.280.27.240.4
    Al2O31.990.21.950.4
    Fe2O30.600.30.620.4
    MgO4.940.24.980.9
    CaO28.620.128.380.5
    K2O0.360.30.390.3
    Na2O0.0191.00.0232.4
    TiO20.1010.60.0991.6
    SO332.740.0432.580.4
    SrO0.0730.30.0771.6
    下载: 导出CSV 
    | 显示表格

    利用本文建立的方法,测定不参加回归的石膏标准物质GBW03110和GBW03110与其他标准物质所配制的人工校准样品SG13,表 5的分析结果表明,测量值与标准值基本一致,可以满足石膏中主次量元素的定量要求。

    表  5  标准物质分析结果
    Table  5.  Analytical results of elements in national and synthetic reference materials
    元素国家标准物质GBW03110人工校准样品SG-13
    标准值
    (%)
    本法测定值
    (%)
    参考值
    (%)
    本法测定值
    (%)
    SiO27.217.2223.2223.41
    Al2O31.921.957.127.11
    Fe2O30.630.622.772.69
    MgO4.924.994.024.05
    CaO28.5028.3219.9219.68
    K2O0.380.401.541.51
    Na2O0.0210.0220.120.11
    TiO20.100.0990.270.28
    SO332.5532.6922.5422.41
    SrO0.0710.0770.0520.050
    下载: 导出CSV 
    | 显示表格

    本研究建立了采用熔融制样X射线荧光光谱仪测定石膏中钙、硫、硅等主次量元素的分析方法。针对硫含量在12.60%~51.91%之间的石膏样品,使用四硼酸锂-偏硼酸锂(质量比22:12) 熔剂可以在熔融过程中有效结合石膏中的硫,抑制了硫在高温下的挥发。选择石膏、高纯硫酸钙和其他标准物质配制成相应的人工校准样品,有效地解决了石膏标准物质缺乏的问题,同时加强了样品基体的适应性。采用高温熔融制样结合理论α系数消除矿物效应、粒度效应以及校正谱线重叠干扰和基体效应,满足了地质样品批量分析测试的需要,尤其是在非金属矿物分析领域具有良好的推广应用价值。

  • 图  1   氟的荧光强度与测量次数的关系

    Figure  1.   The relationship between fluorescence intensity of F and measurement frequency

    表  1   元素测量条件

    Table  1   Measurement conditions of element by WDXRF

    工作参数 条件
    谱线 F Kα
    晶体 XS-55
    探测器 F-PC
    电压 30 kV
    电流 100 mA
    准直器 0.46°
    脉冲高度分析器 50%~150%
    峰位 38.212°
    测量时间 300 s
    注:F-PC为流气正比计数器。
    下载: 导出CSV

    表  2   颗粒度试验

    Table  2   Graininess test

    粒度/mm 荧光强度/kcps
    0.147(100目) 0.4747
    0.105(140目) 0.4812
    0.074(200目) 0.4920
    0.0530(270目) 0.4927
    0.0450(325目) 0.4936
    下载: 导出CSV

    表  3   分析结果对照

    Table  3   Comparison of analytical results

    样品 w(F)/% 相对偏差
    RE/%
    本法测定值 认定值或参考值
    GBW 07170 0.096 0.100 -0.004
    实际样品1 0.032 0.024 0.008
    实际样品2 0.088 0.076 0.012
    实际样品3 0.130 0.160 -0.030
    注:实际样品1、2、3的参考值,是采用氟离子选择电极法测定的结果。
    下载: 导出CSV
  • 杨永丰.高氟铜精矿的处理[J].中国有色冶金,2010(5): 32-34. http://www.cnki.com.cn/Article/CJFDTOTAL-YSYL201005012.htm
    李芝生.铜精矿冶炼过程砷、氟的分布及对硫酸生产的影响[J].硫酸工业,1991(6): 25-27. http://www.cnki.com.cn/Article/CJFDTOTAL-LSGY199106004.htm
    张雪莲.离子选择电极法测定铍精矿中氟的含量[J].湖南有色金属,2011,27(2): 65-67. http://www.cnki.com.cn/Article/CJFDTOTAL-HNYJ201102017.htm
    刘红梅.离子选择电极法测定绿柱石中的氟[J].新疆有色金属,2010(3): 41-43. http://www.cnki.com.cn/Article/CJFDTOTAL-XJYS201003019.htm
    高宏宇,杨祥,宋桢桢,周朝昕.热水解-离子选择电极法测定海相碳酸盐岩石中的氟[J].岩矿测试,2009, 28(2): 139-142. http://www.cnki.com.cn/Article/CJFDTOTAL-YKCS200902016.htm
    王虹,魏伟,许健,苏明跃.高压密封消解-氟离子选择电极-格氏作图法测定铁矿石中氟[J].冶金分析,2007,27(6): 48-50. http://www.cnki.com.cn/Article/CJFDTOTAL-YJFX200706016.htm
    GB/T 3884.5—2000,铜精矿化学分析方法;氟量的测定[S].
    曹慧君.Panalitical Magix (PW2403)型波长色散X射线荧光光谱仪测定铜矿石中的Pb、As、Zn、Mn、Na2O、TiO2 [J].铝镁通讯,2010(4): 40-42.
    曹慧君,张爱芬,马慧侠,李晓宁,徐祥斌.X射线荧光光谱法测定铜矿石中主次量成分[J].冶金分析,2010,30(10): 20-24. doi: 10.3969/j.issn.1000-7571.2010.10.005
    田琼,黄健,钟志光,陈广文,曲强,洪武兴.波长色散X射线荧光光谱法测定铜精矿中铜铅锌硫镁砷[J].岩矿测试,2009,28(4): 382-384. http://www.cnki.com.cn/Article/CJFDTOTAL-YKCS200904020.htm
    宋武元,钟沛余,梁静,郑建国.X射线荧光光谱测定纯铜样品中微量和痕量杂质元素[J].检验检疫科学,2003,13(5): 19-22. http://www.cnki.com.cn/Article/CJFDTOTAL-XDSJ200305008.htm
    梁钰.X射线荧光光谱分析基础[M].北京: 科学出版社,2007.
    应晓浒,林振兴.X射线荧光光谱法测定氟石中的氟化钙和杂质的含量[J].光谱实验室,2000,17(1): 78-81. http://www.cnki.com.cn/Article/CJFDTOTAL-GPSS200001015.htm
    陆晓明,吉昂,陶光仪.X射线荧光光谱法测定莹石中的氟、钙及二氧化硅[J].分析化学,1997,25(2): 178-180. http://www.cnki.com.cn/Article/CJFDTOTAL-FXHX199702013.htm
    王毅民,贺中央.磷矿石中主要和次要组分的X射线荧光光谱分析[J].分析化学,1989,17(1): 87-90. http://www.cnki.com.cn/Article/CJFDTOTAL-FXHX198901024.htm
    张勤,李国会,樊守忠,潘宴山.X射线荧光光谱法测定土壤中水系沉积物等样品中碳、氮、氟、氯、硫、溴等42种主次和痕量元素[J].分析试验室,2008,27(11): 51-57. doi: 10.3969/j.issn.1000-0720.2008.11.014
    肖德明,武朝晖.地质样品中砷、镓、钴、镍、溴、氯、硫和氟的X射线荧光光谱法测定[J].铀矿地质,1990,6(5): 312-317. http://www.cnki.com.cn/Article/CJFDTOTAL-YKDZ199005010.htm
  • 期刊类型引用(5)

    1. 向浩予,刘松,康波,陈昌军,邓伟,邓修林,陈浩如. 班公湖-怒江成矿带西段白板地北部晚侏罗世花岗闪长岩锆石U-Pb年龄、微量元素组成及地质意义. 西北地质. 2025(01): 43-51 . 百度学术
    2. 吕金梁. 西藏金达地区铅锌多金属矿成矿规律研究. 山西冶金. 2024(06): 77-79 . 百度学术
    3. 解鸿儒,郎兴海,邓煜霖,何青,李宸,王兆帅,吴伟哲,王涌滔. 西藏中拉萨地块门巴二长花岗岩年代学、岩石地球化学特征及地质意义. 岩石矿物学杂志. 2024(06): 1553-1577 . 百度学术
    4. 张叶鹏,孔辉,刘程慧,董静,黄朝宇,王红. 西藏巴嘎拉东铅锌矿区地球化学异常特征及找矿预测. 地质装备. 2023(03): 20-27 . 百度学术
    5. 冷秋锋,李文昌,戴成龙,张向飞,吴松洋,曹华文. 中拉萨地块那茶淌地区晚侏罗世-早白垩世花岗岩成因及构造背景:地球化学、年代学及Hf同位素制约. 岩石学报. 2022(01): 209-229 . 百度学术

    其他类型引用(1)

图(1)  /  表(3)
计量
  • 文章访问数:  1371
  • HTML全文浏览量:  344
  • PDF下载量:  10
  • 被引次数: 6
出版历程
  • 收稿日期:  2012-02-12
  • 录用日期:  2012-10-18
  • 发布日期:  2013-03-31

目录

/

返回文章
返回