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电感耦合等离子体发射光谱法测定铬矿石中的二氧化硅

王小强, 杨惠玲

王小强, 杨惠玲. 电感耦合等离子体发射光谱法测定铬矿石中的二氧化硅[J]. 岩矿测试, 2012, 31(5): 820-823.
引用本文: 王小强, 杨惠玲. 电感耦合等离子体发射光谱法测定铬矿石中的二氧化硅[J]. 岩矿测试, 2012, 31(5): 820-823.
WANG Xiao-qiang, YANG Hui-ling. Determination of Silicon Dioxide in Chrome Ores by Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectrometry[J]. Rock and Mineral Analysis, 2012, 31(5): 820-823.
Citation: WANG Xiao-qiang, YANG Hui-ling. Determination of Silicon Dioxide in Chrome Ores by Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectrometry[J]. Rock and Mineral Analysis, 2012, 31(5): 820-823.

电感耦合等离子体发射光谱法测定铬矿石中的二氧化硅

Determination of Silicon Dioxide in Chrome Ores by Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectrometry

  • 摘要: 以过氧化钠为熔剂,经高温熔融-热水提取-盐酸酸化前处理样品,选用金为内标元素,电感耦合等离子体发射光谱法测定铬矿石中的二氧化硅。试验了熔融试样时引入的基体元素钠对被测元素的干扰情况,结果表明,钠含量高于300 mg/L时,二氧化硅的回收率均低于92.5%。采用金内标法有效克服了基体效应及仪器波动产生的影响,改善和提高了准确度和精密度。二氧化硅的检出限为0.0075 mg/L,测定范围为0.025%~10.0%。对铬矿石标准物质进行测定,结果与标准值一致,方法精密度(RSD, n=9)小于2%。与常规化学分析法进行比对试验,二氧化硅的测定值吻合较好,但克服了常规化学分析方法步骤繁琐、耗时长、工作量大的不足,提高了工作效率。本方法也可用于同时测定铬矿石中铝、铁、钙、镁、磷等主次量成分。
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出版历程
  • 收稿日期:  2011-10-18

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