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氧弹燃烧-离子色谱法测定电子元器件中的卤素

巩东侠, 刘肖, 江海飞, 王凌瑶

巩东侠, 刘肖, 江海飞, 王凌瑶. 氧弹燃烧-离子色谱法测定电子元器件中的卤素[J]. 岩矿测试, 2009, 28(6): 545-548.
引用本文: 巩东侠, 刘肖, 江海飞, 王凌瑶. 氧弹燃烧-离子色谱法测定电子元器件中的卤素[J]. 岩矿测试, 2009, 28(6): 545-548.
GONG Dongxia, LIU Xiao, JIANG Haifei, WANG Lingyao. Determination of Halogen in Electronic Components by Oxygen BombIon Chromatography[J]. Rock and Mineral Analysis, 2009, 28(6): 545-548.
Citation: GONG Dongxia, LIU Xiao, JIANG Haifei, WANG Lingyao. Determination of Halogen in Electronic Components by Oxygen BombIon Chromatography[J]. Rock and Mineral Analysis, 2009, 28(6): 545-548.

氧弹燃烧-离子色谱法测定电子元器件中的卤素

Determination of Halogen in Electronic Components by Oxygen BombIon Chromatography

  • 摘要: 采用氧瓶燃烧法对电子元器件样品进行燃烧,用碳酸钠作为吸收液进行吸收,离子色谱法分离测定微量卤素离子。选择的色谱条件为:IonPac AS22离子交换柱,碳酸盐等度淋洗,抑制型电导检测。对色谱方法进行了比较详尽的讨论,并给出了判断“假阳性”的一些推荐方法。选定的方法具有灵敏度高、选择性好、操作简单、价格便宜、对环境友好等特点,适合大规模推广使用。
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出版历程
  • 收稿日期:  2009-03-03
  • 修回日期:  2009-06-21

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