密闭微波消解-等离子体发射光谱法测定钢铁样品中的硅
Microwave Decomposition for the Determination of Silicon in Steel Samples by ICP-AES
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摘要: 为了准确测定高等级钢铁中的Si,必须使用HF。用ICP-AES法测定Si会受到Co、Mo、Ni、Ta、V和W的严重干扰,仅仅使用外标或内标(标准加入)无法保证足够的准确性,必须使用基质匹配空白校正技术才能得到准确的Si的测定结果。利用Multiwave 3000 密闭式微波加压湿法消解技术结合ICP-AES测定高等级钢铁中Si的方法,与常规重量法相比,可以极大地节省时间和减小试剂的消耗。