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X射线荧光光谱法测定地质样品中的氯和硫

Determination of Cl and S in Geological Samples by X-Ray Fluorescence Spectrometry

    摘要
  • 摘要: 使用粉末压片-X射线荧光光谱法测定地质样品中的Cl和S，探讨了样品放置时间、环境以及建立真空的时间对测量结果的影响。Cl的精密度(RSD，n=6)小于10％，S的精密度(RSD，n=6)小于5％。Cl和S的方法检出限分别为14和11μg／g，采用国家标准物质分析验证方法，其结果与标准值相符。

     

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