摘要: 除了继续发展波长色散X射线荧光分析装置在主、次量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外，进一步提高灵敏度，使分析范围扩展到痕量分析；开拓微区面分布的元素成像分析；进一步对传统分析因难的轻元素和中、重金属元素的探讨，开发新的高级次谱线分析方法；适应新材料特别是纳米材料的分析要求，对薄膜分析的开拓等方面，已经有了长足的发展。在介绍商品化的分析装置方面的发展状况的同时，对无标样分析的基本参数法目前发展状况也做了介绍。