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波长色散X射线荧光分析的新发展

北京岛津科学仪器中心

北京岛津科学仪器中心. 波长色散X射线荧光分析的新发展[J]. 岩矿测试, 2003, (4): 311-314.
引用本文: 北京岛津科学仪器中心. 波长色散X射线荧光分析的新发展[J]. 岩矿测试, 2003, (4): 311-314.
shu
Development of Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Analysis[J]. Rock and Mineral Analysis, 2003, (4): 311-314.
Citation: Development of Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Analysis[J]. Rock and Mineral Analysis, 2003, (4): 311-314.
shu

波长色散X射线荧光分析的新发展

  • 北京岛津科学仪器中心

Development of Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Analysis

摘要

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  • 摘要: 除了继续发展波长色散X射线荧光分析装置在主、次量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外，进一步提高灵敏度，使分析范围扩展到痕量分析；开拓微区面分布的元素成像分析；进一步对传统分析因难的轻元素和中、重金属元素的探讨，开发新的高级次谱线分析方法；适应新材料特别是纳米材料的分析要求，对薄膜分析的开拓等方面，已经有了长足的发展。在介绍商品化的分析装置方面的发展状况的同时，对无标样分析的基本参数法目前发展状况也做了介绍。
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