摘要: 对有关X射线荧光光谱分析低含量元素的检出限问题进行了多方面的探讨。从检出限的定义及其定义下的相对标准偏差到各种不同测量、校准与校正方法的检出限及其相对应的相对标准偏差进行计算。提出了以定义检出限的相对标准偏差为基准，对各种测量方法计算出的检出限进行重新界定，从而确认一个具有可比性的、精度一致的检出限。同时还讨论了仪器与X光管固有杂质元素谱线对该元素检出限的影响；测量仪器、测量条件与测量时间对检出限的影响；不同岩性试样对检出限的影响；检出限与测定限等问题。