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在厚靶分析中外标法的表面形状校正

孙大泽, 梁宝鎏

孙大泽, 梁宝鎏. 在厚靶分析中外标法的表面形状校正[J]. 岩矿测试, 2003, (1): 10-14.
引用本文: 孙大泽, 梁宝鎏. 在厚靶分析中外标法的表面形状校正[J]. 岩矿测试, 2003, (1): 10-14.
shu
Surface Shape Correction in Thick Sample Measurement Using an Outer Mark Membrane[J]. Rock and Mineral Analysis, 2003, (1): 10-14.
Citation: Surface Shape Correction in Thick Sample Measurement Using an Outer Mark Membrane[J]. Rock and Mineral Analysis, 2003, (1): 10-14.
shu

在厚靶分析中外标法的表面形状校正

  • 1.

    天津市技术物理研究所，天津300192

  • 2.

    香港城市大学，香港

基金项目: 

香港城市大学Strategic研究基金(7000867)

Surface Shape Correction in Thick Sample Measurement Using an Outer Mark Membrane

摘要

    摘要
  • 摘要: 在厚靶的非破坏性x射线荧光分析中，以钇做外标元素，研究了不同样品形状及与源、探测器距离不同时，引起接收到元素荧光强度差异的校正方法。给出了对不同形状瓷片中元素特征峰计数校正前后的比较。探讨了此种方法带入的测量误差。
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出版历程
  • 修回日期:  2002-09-24

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