在厚靶分析中外标法的表面形状校正

Surface Shape Correction in Thick Sample Measurement Using an Outer Mark Membrane

  • 摘要: 在厚靶的非破坏性x射线荧光分析中,以钇做外标元素,研究了不同样品形状及与源、探测器距离不同时,引起接收到元素荧光强度差异的校正方法。给出了对不同形状瓷片中元素特征峰计数校正前后的比较。探讨了此种方法带入的测量误差。

     

/

返回文章
返回