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电感耦合等离子体原子发射光谱法测定硅铁中微量元素

刘先国, 方金东

刘先国, 方金东. 电感耦合等离子体原子发射光谱法测定硅铁中微量元素[J]. 岩矿测试, 2002, (1): 63-65.
引用本文: 刘先国, 方金东. 电感耦合等离子体原子发射光谱法测定硅铁中微量元素[J]. 岩矿测试, 2002, (1): 63-65.
shu
Determination of Trace Elements in Ferrosilicon by ICP-AES[J]. Rock and Mineral Analysis, 2002, (1): 63-65.
Citation: Determination of Trace Elements in Ferrosilicon by ICP-AES[J]. Rock and Mineral Analysis, 2002, (1): 63-65.
shu

电感耦合等离子体原子发射光谱法测定硅铁中微量元素

  • 1.

    中国地质大学汉口分校，湖北武汉430030

  • 2.

    湖北省地质实验研究所，湖北武汉430022

Determination of Trace Elements in Ferrosilicon by ICP-AES

摘要

    摘要
  • 摘要: 应用电感耦合等离子体发射光谱法对硅铁中微量元素的测定进行了研究，采用基体匹配法消除了大量基体的干扰，选择了最佳激发条件，样品的加标回收率在97％－107％。方法用美国硅铁标样分析验证，测定结果与标准值吻合较好，各元素8次测定的RSD％＜7％。
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出版历程
  • 修回日期:  2001-07-12

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