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地质样品痕量氯溴和硫的X射线荧光光谱法测定

张勤, 詹秀春, 等

张勤, 詹秀春, 等. 地质样品痕量氯溴和硫的X射线荧光光谱法测定[J]. 岩矿测试, 2002, (1): 12-18.
引用本文: 张勤, 詹秀春, 等. 地质样品痕量氯溴和硫的X射线荧光光谱法测定[J]. 岩矿测试, 2002, (1): 12-18.
shu
Determination of Trace Br, Cl and S in Rock, Soil and Sediment Samples by X-Ray Fluorescence Spectrometry[J]. Rock and Mineral Analysis, 2002, (1): 12-18.
Citation: Determination of Trace Br, Cl and S in Rock, Soil and Sediment Samples by X-Ray Fluorescence Spectrometry[J]. Rock and Mineral Analysis, 2002, (1): 12-18.
shu

地质样品痕量氯溴和硫的X射线荧光光谱法测定

  • 1.

    国家地质实验测试中心，北京100037

  • 2.

    中国地质科学院物化探研究所，河北廊坊065000

基金项目: 

国土资源部地质大调查项目 (DKD 990 40 17)

Determination of Trace Br, Cl and S in Rock, Soil and Sediment Samples by X-Ray Fluorescence Spectrometry

摘要

    摘要
  • 摘要: 报道了粉末压样－X射线荧光光谱法测定地质样品中痕量Cl、Br、S的分析方法。采用水系沉积物、岩石和土壤等国家一级标准物质进行校准。实验表明，对于不同岩性样品中Br的分析，特别是当Br的含量低于2μg/g时，采用谱峰强度（未扣除背景）与背景强度的比进行校准所得到的结果，明显优于铑靶线的Compton散射线内标法，分析精度（RSD,n=6)为2.4%-15.3%，大多数优于10％；平均值的相对误差低于24％。对于Cl的分析，只需对Ca的影响加以校正即可得到非常好的结果；不同样品中Cl的分析精度（RSD，n=6
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出版历程
  • 修回日期:  2001-07-30

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