摘要: 采用Si-PIN高分辨率探测器，研制了2408道X射线荧光分析仪，其体积小、重量轻、携带方便。能量分辨率为203eV/Mn Kα；稳定性为5％（8h）；配备了专门的、操作简便的软件系统。在地质和矿物样品中分析中进行了应用，与封闭正比计数器X射线荧光分析仪相比，检出限降低了一个数量级。