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X射线荧光光谱法对钒氧化物中不同价态钒的定量分析

谭秉和, 孙伟莹

谭秉和, 孙伟莹. X射线荧光光谱法对钒氧化物中不同价态钒的定量分析[J]. 岩矿测试, 2000, (4): 245-248.
引用本文: 谭秉和, 孙伟莹. X射线荧光光谱法对钒氧化物中不同价态钒的定量分析[J]. 岩矿测试, 2000, (4): 245-248.
shu
Quantitative Analysis of Valency States of Vanadium in Mixture of Vanadium Oxides by X-Ray Fluorescence Spectrometry[J]. Rock and Mineral Analysis, 2000, (4): 245-248.
Citation: Quantitative Analysis of Valency States of Vanadium in Mixture of Vanadium Oxides by X-Ray Fluorescence Spectrometry[J]. Rock and Mineral Analysis, 2000, (4): 245-248.
shu

X射线荧光光谱法对钒氧化物中不同价态钒的定量分析

  • 北京科技大学化学系,北京

Quantitative Analysis of Valency States of Vanadium in Mixture of Vanadium Oxides by X-Ray Fluorescence Spectrometry

摘要

    摘要
  • 摘要: 讨论了用普通的Ｘ射线荧光光谱仪，采用谱峰分解法和谱峰合成法对钒氧化物的混合物中氧化态Ｖ２Ｏ３、Ｖ２Ｏ４、Ｖ２Ｏ５的定量分析。谱峰分解法以每种钒氧化态的标准谱形函数为基础，用最小二乘法求解，而谱峰合成法则是以每种纯氧化态的测量谱线为基础，用定标技术求解，用上述法测定钒氧化物产品，其结果与化学法、电化学法的结果一致，最大相对误差为７．７％。
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  • 修回日期:  1999-12-26

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