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直流等离子体原子发射光谱在纯钕中稀土杂质分析的应用

陈俊芬

陈俊芬. 直流等离子体原子发射光谱在纯钕中稀土杂质分析的应用[J]. 岩矿测试, 1998, (4): 254-258.
引用本文: 陈俊芬. 直流等离子体原子发射光谱在纯钕中稀土杂质分析的应用[J]. 岩矿测试, 1998, (4): 254-258.
shu
The Application of DCP-AES to the Analysis of Rare Earth Impurities in Pure Neodymium[J]. Rock and Mineral Analysis, 1998, (4): 254-258.
Citation: The Application of DCP-AES to the Analysis of Rare Earth Impurities in Pure Neodymium[J]. Rock and Mineral Analysis, 1998, (4): 254-258.
shu

直流等离子体原子发射光谱在纯钕中稀土杂质分析的应用

  • 西北有色地质研究所

The Application of DCP-AES to the Analysis of Rare Earth Impurities in Pure Neodymium

摘要

    摘要
  • 摘要: 应用直流等离子体中阶梯光栅直读光谱仪进行纯钕中１４个稀土杂质元素的分析，选定了干扰小、检出限低的最佳分析线，对干扰的来源和性质作了研究，从而拟定了纯钕中稀土杂质元素的分析方法。该方法的检出限在３～８１μｇ／Ｌ，ＲＳＤ（ｎ＝１１）在１％～３．６％，加标回收率为９２％～１０８％。方法已用于纯金属钕和氧化钕中杂质稀土的分析。
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  • 修回日期:  1997-07-28

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