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X射线荧光光谱法直接测定地质样品中多种痕量元素

邹海峰, 苏克

邹海峰, 苏克. X射线荧光光谱法直接测定地质样品中多种痕量元素[J]. 岩矿测试, 1998, (3): 207-210.
引用本文: 邹海峰, 苏克. X射线荧光光谱法直接测定地质样品中多种痕量元素[J]. 岩矿测试, 1998, (3): 207-210.
shu
Determination of Trace Elements in Geochemical Samples by XRF[J]. Rock and Mineral Analysis, 1998, (3): 207-210.
Citation: Determination of Trace Elements in Geochemical Samples by XRF[J]. Rock and Mineral Analysis, 1998, (3): 207-210.
shu

X射线荧光光谱法直接测定地质样品中多种痕量元素

  • 长春科技大学应用理学院化学系

Determination of Trace Elements in Geochemical Samples by XRF

摘要

    摘要
  • 摘要: 采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末压饼法制样，Ｘ射线荧光光谱法直接测定了地质样品中痕量元素Ａｓ、Ｇａ、Ｓｃ、Ｌａ、Ｙ、Ｃｅ、Ｗ、Ｍｏ、Ｓｎ、Ｃｏ和Ｐｂ。讨论了背景校正、谱线重叠校正、基体效应校正和仪器漂移校正等问题。利用理论α系数代替经验系数，使方法具有较高的准确度和较低的检出限。所测１１个元素的检出限在（０．３０～２．０２）×１０－６水平，精度（ＲＳＤ，ｎ＝１１）在０．９５％～１３．０％。方法经国家一级标准物质分析验证，结果与标准值相符。
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  • 修回日期:  1997-07-20

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