摘要: 采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末压饼法制样，Ｘ射线荧光光谱法直接测定了地质样品中痕量元素Ａｓ、Ｇａ、Ｓｃ、Ｌａ、Ｙ、Ｃｅ、Ｗ、Ｍｏ、Ｓｎ、Ｃｏ和Ｐｂ。讨论了背景校正、谱线重叠校正、基体效应校正和仪器漂移校正等问题。利用理论α系数代替经验系数，使方法具有较高的准确度和较低的检出限。所测１１个元素的检出限在（０．３０～２．０２）×１０－６水平，精度（ＲＳＤ，ｎ＝１１）在０．９５％～１３．０％。方法经国家一级标准物质分析验证，结果与标准值相符。