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X射线荧光光谱法测定钒的原子价平均值

孙伟莹, 谭秉和

孙伟莹, 谭秉和. X射线荧光光谱法测定钒的原子价平均值[J]. 岩矿测试, 1998, (3): 193-196.
引用本文: 孙伟莹, 谭秉和. X射线荧光光谱法测定钒的原子价平均值[J]. 岩矿测试, 1998, (3): 193-196.
shu
Determination of Average Atomic Valence of Vanadium by XRF[J]. Rock and Mineral Analysis, 1998, (3): 193-196.
Citation: Determination of Average Atomic Valence of Vanadium by XRF[J]. Rock and Mineral Analysis, 1998, (3): 193-196.
shu

X射线荧光光谱法测定钒的原子价平均值

  • 北京科技大学化学系

基金项目: 

冶金部重点科研项目

Determination of Average Atomic Valence of Vanadium by XRF

摘要

    摘要
  • 摘要: 用Ｘ射线荧光光谱法测定了一系列钒的氧化物混合物中Ｖ的Ｋβ谱线的精细结构，研究了钒的氧化物中Ｋβ谱峰参数随混合物平均原子价变化的规律，并利用所作的定标曲线对一些实际样品，如钒渣、磁铁矿中钒的平均原子价进行了定量测定。
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出版历程
  • 修回日期:  1997-01-27

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