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析相萃取光度法测定法质样品中痕量钯

胡超涌, 赵中一

胡超涌, 赵中一. 析相萃取光度法测定法质样品中痕量钯[J]. 岩矿测试, 1998, (2): 95-98.
引用本文: 胡超涌, 赵中一. 析相萃取光度法测定法质样品中痕量钯[J]. 岩矿测试, 1998, (2): 95-98.

析相萃取光度法测定法质样品中痕量钯

  • 摘要: 研究了表面活动剂加醇析相对钯-硫代米Chi酮络合物的萃取行为,建立了痕量钯的光度测定方法。析相对Pd的萃取回收率为99.5%,富集倍率搂25。络合物的λmax=530nm,形成后至少稳定2h,ε达2.6×10^6L·mol^-1·cm^-1,线性范围1.4 ̄40.0μg/LPd(Ⅱ),检出限是1.4μg/L,对于10μg/LPd测定11次,计算相对标准偏差为4.4%。方法已用岩矿中痕量钯的测定,结
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