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理学3080E型X射线荧光光谱仪分辨率的改善

马光祖, 梁国立

马光祖, 梁国立. 理学3080E型X射线荧光光谱仪分辨率的改善[J]. 岩矿测试, 1998, (1): 75-78.
引用本文: 马光祖, 梁国立. 理学3080E型X射线荧光光谱仪分辨率的改善[J]. 岩矿测试, 1998, (1): 75-78.
shu
Improvement of Resolution for Rigaku 3080E X_Ray Fluorescence Spectrometer[J]. Rock and Mineral Analysis, 1998, (1): 75-78.
Citation: Improvement of Resolution for Rigaku 3080E X_Ray Fluorescence Spectrometer[J]. Rock and Mineral Analysis, 1998, (1): 75-78.
shu

理学3080E型X射线荧光光谱仪分辨率的改善

  • 地矿部岩矿测试技术研究所

Improvement of Resolution for Rigaku 3080E X_Ray Fluorescence Spectrometer

摘要

    摘要
  • 摘要: 通过对理学３０８０Ｅ型Ｘ射线荧光光谱仪第二准直器的改造，使谱仪对ＳＫβ谱线的相对分辨率减少了近２０％，即改造后的谱仪分辨能力提高了近２０％，而且谱峰强度仍保持在较高水平。为开展硫等轻元素化学价态的分析研究与元素谱线互相重叠干扰复杂的试料分析提供了有利条件。
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