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高灵敏度的全反射X射线荧光光谱仪的研制

张天佑, 李国会

张天佑, 李国会. 高灵敏度的全反射X射线荧光光谱仪的研制[J]. 岩矿测试, 1998, (1): 68-74.
引用本文: 张天佑, 李国会. 高灵敏度的全反射X射线荧光光谱仪的研制[J]. 岩矿测试, 1998, (1): 68-74.
shu
Development of High Sensitive Total Reflection X Ray Fluorescence Spectrometer[J]. Rock and Mineral Analysis, 1998, (1): 68-74.
Citation: Development of High Sensitive Total Reflection X Ray Fluorescence Spectrometer[J]. Rock and Mineral Analysis, 1998, (1): 68-74.
shu

高灵敏度的全反射X射线荧光光谱仪的研制

  • 地矿部全反射Ｘ射线荧光光谱技术组

基金项目: 

地矿部八五重点地质科技项目

Development of High Sensitive Total Reflection X Ray Fluorescence Spectrometer

摘要

    摘要
  • 摘要: 报道了由地矿部全反射Ｘ射线荧光光谱技术组研制的全反射Ｘ射线荧光（ＴＸＲＦ）分析仪。着重介绍了样机的全反射装置、分析特点、技术参数和应用验证，与国内外同类仪器主要技术指标进行对比表明，该样机主要技术指标基本上达到国际同类仪器水平。列出了２３个元素的检出限范围（００８～０９２ｎｇ），测定Ｓｒ的线性动态范围在３个数量级，对地气样品的分析结果与原子吸收光谱法相符。方法精密度好，水样测定中各元素的ＲＳＤ（ｎ＝５）小于１０％。
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