摘要: 采用Ｘ射线荧光靶线内标法测定黄金饰品中银含量，当ｗ（Ａｇ）＜１０％时，测定的标准偏差小于００１％，测量平均值与标准值的偏差亦小于００１％；当ｗ（Ａｇ）＜８％时，测定的标准偏差小于００４％，测量平均值与标准值的偏差小于００７％。方法能较好地补偿了表面形状对测定结果的影响，适用ｗ（Ａｕ）＞９２％的饰品中银的测定