摘要: 使用Ｘ射线荧光谱仪，采用透空照射、数学校正法并与比重法联用，可无损检测金、银、铂及饰物的成色，判别包、镀金饰品，较好校正了饰物的形状、面积和光法度的影响，不受宝石镶嵌物的限制，能够提供金，银，铂及饰物成色和杂质元素的配比数据，用该法测定２４Ｋ及１４Ｋ值饰品的ＲＳＤ（＝９）分别为０．０１％和０．８２％，测定范围在１％－１００％之间。