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滤纸薄样片—X射线荧光光谱法测定钨和锡

荆照政, 张博仪

荆照政, 张博仪. 滤纸薄样片—X射线荧光光谱法测定钨和锡[J]. 岩矿测试, 1990, (4): 272-273.
引用本文: 荆照政, 张博仪. 滤纸薄样片—X射线荧光光谱法测定钨和锡[J]. 岩矿测试, 1990, (4): 272-273.
shu
Determination of W and Sn by Paper Substrate-XRFA[J]. Rock and Mineral Analysis, 1990, (4): 272-273.
Citation: Determination of W and Sn by Paper Substrate-XRFA[J]. Rock and Mineral Analysis, 1990, (4): 272-273.
shu

滤纸薄样片—X射线荧光光谱法测定钨和锡

  • 湖南省矿产测试利用研究所 长沙410007 荆照政，张博仪 ，湖南省矿产测试利用研究所 长沙410007 刘雪珍

Determination of W and Sn by Paper Substrate-XRFA

摘要

    摘要
  • 摘要: 本文用蜡环成形滤纸定量吸附由微量进样器分取的50μl试液,制成薄样进行X射线荧光光谱分析,实现了对样品中高含量WO_3、SnO_2的定量测定。被测组份的荧光强度与浓度在0—500μg/50μl范围内有良好线性关系。方法操作简单、制样速度快、成本低、稳定性好。
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