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氩气ICP中“电荷迁移”激发机理的研究

A Study on the Mechanism of Charge Transfer in Argon ICP

  • 摘要: 在氩气ICP中,氩离子的密度与电子密度相当,比亚稳态氩原子的密度高1000倍左右.而且Ar~ 的有效碰撞截面和具有的能量(~16.5eV)均高于电子(~0.8eV)和Ar~m(~12.5eV)。因而以“电荷迁移”形式发生的Ar~ 对元素原子的激发应该是一个重要过程:Ar~ X→X~( *) Ar △E测量钙、镁的具有不同激发能的原子和离子谱线强度之比I_i/I_a,并与(I_i/I_a)_(LTE)相比较,发现唯有Mg(Ⅱ)279.81nm/Mg(Ⅰ)285.21nm的实验值远高于LTE值。另外,由Mg

     

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