黑钨精矿中二氧化硅的X射线荧光光谱分析
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摘要: 本文采用粉末压片方法,以硼酸镶边垫底,将黑钨精矿粉末样品直接加压成型,用赛璐珞-丙酮溶液封固表面,然后上机测定。标准系列与样品的基体成份相近,以消除基体效应,分析二氧化硅的含量范围为0.1—10％,相对标准偏差约2％,分析精度能满足选矿流程要求。
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