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氯化反应在发射光谱分析上的应用—同时测定化探样品中十个痕量元素

丁宝卿

丁宝卿. 氯化反应在发射光谱分析上的应用—同时测定化探样品中十个痕量元素[J]. 岩矿测试, 1987, (4): 274-278.
引用本文: 丁宝卿. 氯化反应在发射光谱分析上的应用—同时测定化探样品中十个痕量元素[J]. 岩矿测试, 1987, (4): 274-278.
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氯化反应在发射光谱分析上的应用—同时测定化探样品中十个痕量元素

  • 有色金属总公司广东地质研究所

摘要

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  • 摘要: 本方法提出化探样品中测定十个痕量元素(W、Bi、Ag、Ga等)。这些在矿物中的痕量元素和化学反应剂,在电极高温电弧中立即转化成易挥发的化合物。然后达到与基体元素有效的分离。十个元素测定下限为(ppm):W1,Tl1,Cdl,Bi0.3,Ga0.3,In 0.3,Ge 0.3,Mo 0.3,Sn0.3,Ag 0.01。
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