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X-射线荧光光谱分析地质化探样中主要和痕量元素

翟秋福

翟秋福. X-射线荧光光谱分析地质化探样中主要和痕量元素[J]. 岩矿测试, 1987, (2): 113-116.
引用本文: 翟秋福. X-射线荧光光谱分析地质化探样中主要和痕量元素[J]. 岩矿测试, 1987, (2): 113-116.
shu

X-射线荧光光谱分析地质化探样中主要和痕量元素

  • 云南省地矿局测试中心

摘要

    摘要
  • 摘要: 岩石化探样中主要和痕量元素的测定,目前多半以ICP或XRF法为主,二种测试手段各有优势。本文应用8680X-射线光谱仪测定氧化镁,氧化铝,氧化硅,磷,氧化钾,氧化钙,氧化铁,氧化钠,钛,锰,锌,钒,铬,铷,铌,钇,锶,锆等元素。8680型系顺序/多道复合式X-射线光谱仪。试验证明,本方法简易、快速,结果满意。方法的变动系数最大为14.24％(Nb=15ppm),最小为0.01％(SiO2=77.27％)。
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