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X荧光测定岩石中痕量元素的基体校正方法

王毅民, 梁国立

王毅民, 梁国立. X荧光测定岩石中痕量元素的基体校正方法[J]. 岩矿测试, 1984, (4): 354-359.
引用本文: 王毅民, 梁国立. X荧光测定岩石中痕量元素的基体校正方法[J]. 岩矿测试, 1984, (4): 354-359.
shu

X荧光测定岩石中痕量元素的基体校正方法

  • 中国地质科学院岩矿测试技术研究所 王毅民 ，中国地质科学院岩矿测试技术研究所 梁国立

摘要

    摘要
  • 摘要: 地质样品痕量元素分析中的基体校正,前人作过大量工作。但是对于主元素(主要指铁)吸收限长波侧的基体校正还未很好解决。本文利用相对吸收的概念,计算了主元素吸收限对样品总吸收的影响，并与Reynolds法相结合，导出了计算主元素吸收限长波侧吸收校正系数的方程。
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