用比值法指标化X光粉晶衍射低级晶系d(A)值
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摘要: 一、前言 自从德拜(Debye),谢尔(Scherrer)于1916年首先发明粉晶照相以来,一直被广泛应用于科学研究、生产实践,对于矿物研究与鉴定起了极其重要的作用。粉晶照相法虽有其局限性,如:线条的重合,低级晶系图谱复杂等,但却有其优点,如:操作简单,强度可靠,不受单晶的限制等,则是别的方法所不及的。迄今照相技术,计算方法,鉴定手段等仍在继续不断地得到有关研究人员的改进。
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