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《X-Ray Spectrometry》（印刷版ISSN 0049-8246，网络版ISSN 1097-4539）由John Wiley & Sons, Ltd.出版，是X射线光谱领域的专业性学术期刊。该刊1972年创刊，开始为季刊，1987年改为双月刊。除特刊（Special Issue）外，每期发表论文都在20篇以下，创刊至今已发表论文约2000篇。2012年SCI影响因子为1.546。
《X-Ray Spectrometry》现任主编是比利时安特卫普大学化学系R.Van Grieken教授；地区副主编7位，包括中国的副主编是国家地质实验测试中心罗立强研究员，还有一位负责新闻的副主编，他是来自日本材料研究所（NIMS）的Kenji Sakurai教授；编委30位，包括3位中国学者，他们是国家地质实验测试中心詹秀春研究员、中国科学院上海应用物理研究所黄宇营研究员和中国科学院上海硅酸盐研究所卓尚军研究员。
《X-Ray Spectrometry》致力于发表X射线光谱领域的学术论文，包括用电子、X射线光子、质子和γ射线作为激发源的X射线光谱的理论和应用，涵盖X射线光谱领域的技术、分析方法和仪器的最新进展。已发表的论文所涉及的设备既有波长色散型，也有能量色散型，以及与之相关的数据处理方法和软件；研究领域涉及X射线光谱学的方法、技术和仪器及其在环境分析和监测、考古、地质、矿产、表面科学、材料科学、医药等不同领域的应用。
《X-Ray Spectrometry》的主要栏目是研究论文（Research Articles），不定期的综述（Reviews）、简报（Short Communications）、书评（Book Reviews）和专题报告（Account of Research）。现在，在每期末尾还有新闻（News）、会议和大事预告（Forthcomings Meetings and Events），这两个栏目对X射线光谱分析工作者很有价值，可以及时了解世界范围内X射线光谱领域所发生的重要事件，包括仪器、方法、理论、应用等方面的重要进展、重大事件、重要活动以及学术会议等。
近年来，为了提高稿件质量和数量，《X-Ray Spectrometry》出版多期特刊。在2008~2013年6年中，每年都推出特刊，特别是2008年出版了4期特刊。特刊可能为某一特殊技术领域所发，如2010年第2期是手持式（Handheld）和便携式（Portable）仪器特刊；也会为某一应用领域而发，如2009 年第1期是X射线光谱在环境和地质领域的应用特刊；还会为某些国家和地区而发，如2004年第3期为南非、2010年第1期是俄罗斯和蒙古特刊；更多的是为专业性学术会议所发，如欧洲X射线光谱会议等。
中国学者在《X-Ray Spectrometry》创刊至今已经发表研究性论文55篇，近年呈增长趋势。 近十年（2004~2013年）中国学者发表了研究性论文24篇，约占同期该刊所发论文的3.4%，而近两年（2012~2013年）中国学者发表研究性论文8篇，约占同期该刊所发论文的6%。A.G.Revenko教授在2012年《X-Ray Spectrometry》创刊40周年时撰文统计，中国学者在1972~2011年的40年间在该刊共发表论文47篇，排在所有国家的第16位（前10位分别为：美国、印度、日本、德国、意大利、英国、法国、俄罗斯（包括前苏联）、奥地利和阿根廷）。
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