Determination of Selenium, Major and Minor Elements in Selenium-rich Soil Samples by X-ray Fluorescence Spectrometry with Powder Pellet Preparation
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摘要: 目前土壤中Se主要采用原子荧光光谱法测定,存在用酸量大、前处理相对复杂等缺点,对于高含量Se的测定则需要高倍稀释,无疑会扩大分析误差。本文采用粉末压片波谱-能谱复合X射线荧光光谱法测定湖北富硒土壤样品中的Se等17个主次量元素,波谱分析10个元素的同时,能谱分析As、Cu、Rb、Sr、Zr、Ba、Ni等7个元素,大幅节省了测定时间。通过将不同国家标准物质按比例混合的方式配置混合标准样品,解决了现有Se标准物质在5~72μg/g含量范围不足的问题。对于高含量Se的测定,通过谱图分析,波谱数据优于能谱数据,对其精密度、准确度考核,相对标准偏差(RSD)小于10%,高含量Se样品的RSD小于0.70%,能够满足Se含量大于3.00μg/g土壤样品的定量分析要求,同时可提供16个主次量元素的定量或近似定量分析结果。要点
(1) 建立了联合使用波谱-能谱测定富硒土壤中主次量元素的方法。
(2) 分析了X射线荧光光谱法测定Se的技术难点,合理优化了分析测试条件。
(3) 本方法可测定高含量Se,也可提供16个主次量元素的定量或近似定量分析结果。
HIGHLIGHTS(1) A wavelength dispersive and energy dispersive X-ray fluorescence (WD-ED XRF) spectrometry method was established to determine the major and minor elements in selenium-rich soil.
(2) The technical difficulties in the determination of Se by XRF were investigated, and the analytical conditions were optimized reasonably.
(3) The method can be used to determine the high content of Se, and can also provide quantitative or approximate quantitative results of 16 major and minor elements.
Abstract:BACKGROUNDAt present, the content of Se in soil is mainly determined by atomic fluorescence spectrometry, which has disadvantages such as large usage of acid and relatively complex pretreatment. Determination of high content of Se requires high dilution, which expands the analysis error.OBJECTIVESTo establish a method for the determination of Se and other elements in Se-rich soil samples by wavelength dispersive and energy dispersive X-ray fluorescence (WD-ED XRF).METHODSWD-ED XRF was used to determine 17 major and minor elements such as Se in Hubei selenium-rich soil samples with powder pellet. While 10 elements were analyzed by WD-XRF, As, Cu, Rb, Sr, Zr, Ba, Ni were analyzed by ED-XRF, which significantly reduced the measurement time.RESULTSBy mixing different certified reference materials in proportion to configure mixed certified reference materials, the problem of insufficient content of the existing Se reference materials in the range of 5-72μg/g was solved. For the determination of high content Se, the relative standard deviation was less than 10%, and the RSD of high content Se sample was less than 0.70%, through the precision and accuracy assessment.CONCLUSIONSThe proposed method satisfies the quantitative analysis of soil samples with Se content greater than 3.00μg/g, and provides the quantitative or approximate quantitative analysis results of 16 major and minor elements. -
随着人们生活水平的日益提高,硒对人体健康的影响研究越来越受到重视[1-3],相关研究报道日益增多[4-8]。目前测定土壤中Se一般采用原子荧光光谱法(AFS)及电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)[9-14]。其中以AFS法应用较多,但其缺点在于前处理复杂、用酸量大、环境污染等。如对于低含量Se的测定,AFS法具有较高的灵敏度,但单次测量只能测定一种元素,高含量硒需要高倍稀释,从而扩大了测定误差。压片制样X射线荧光光谱法(XRF)具有试剂用量少、制样简单快速、同时测定多种元素等优点,在地质矿产调查中得到了广泛应用[15-22]。近年来波谱-能谱联用X射线荧光光谱仪实现了一台仪器上将波长与能量色散同时分析,可在相同时间内分析更多的元素,目前已有相关文献[23-25]报道。
应用XRF法测定高含量Se,由于谱线重叠峰较少,散射背景相对较低,理论上可以得到满意的分析结果,但其困难在于目前现有土壤标准物质不足,如高含量Se的标准物质较少,且这类标准物质多是多金属矿类,如锑矿石、铅矿石、铜矿石、砷矿石等。由于金属矿和普通硅酸盐类土壤的基体效应差异较大[26],用这些金属矿类标准物质制作的标准曲线很难满足普通硅酸盐类型土壤样品中Se的测定要求[27]。
本文利用现有矿物标准物质与普通土壤标准物质混合,配置混合标准样品,减少了基体效应造成的影响,解决了标准物质不足的问题。合理地设定了波谱-能谱测量条件,在保证测定数据准确度的同时,节省了分析时间,通过精密度与准确度考核,该分析方法可以满足富硒土壤中Se的测定要求,其他16个主次量元素能够满足定量或半定量分析要求。对湖北恩施富硒地区建始县和利川市采集的两个土壤样品[28-31]经方法对比分析,本文所建分析方法(XRF)测定数据与AFS的结果吻合。
1. 实验部分
1.1 仪器和主要试剂
Zetium X射线荧光光谱仪(荷兰帕纳科公司),端窗铑钯X射线管(光管功率4kW)。压片机(MAEKAWA TESTING MACHINE MFG公司),最大压强480MPa,配36mm压样模具。电动球磨机(德国Retsch公司),振荡频率30Hz(或30次/s)。
高纯石蜡粉末:购自德国Fluxana公司,编号BM-0002-1。
国家标准物质:包括沉积物标准物质GBW07303、GBW07305-GBW07307、GBW07303a、GBW07304a、GBW07319、GBW07347;土壤标准物质GBW07404a-GBW07407、GBW07429、GBW07430、GBW07449、GBW07456、GBW07457;多金属矿标准物质GBW07163、GBW07166、GBW07167、GBW07268、GBW07277、GBW07278、GBW07280。
1.2 样品制备
样品的要求:样品颗粒需接近或小于200目,在样品称量前,应称取少量样品(取样量>7.0000g)于纸质样品袋中,置于烘箱中于105℃温度下烘样2h后,干燥器中保存。
样品制备方法:精确称量样品7.0000g和石蜡粉末1.5750g于25mL瓷坩锅中,用玻璃棒充分搅拌后,用电动球磨机混匀2min。将混匀的样品倒入压样模具中,在20吨压力下压制成直径36mm圆片,样片背面用记号笔标记样品编号,样片袋置于干燥器中保存。
1.3 仪器测量条件
合理地设定元素测量条件,测量功率为3600W,测定元素背景角度时,充分考虑谱线重叠干扰,视野光栏直径为27mm,试样盒面罩直径27mm,各分析元素测量条件见表 1。充分考虑波谱与能谱分析能力[25],Se元素采用波谱、能谱两种测量方式。
表 1 波长色散-能量色散X射线荧光光谱仪测量条件Table 1. Measurement conditions of elements by WD-ED X-ray fluorescence spectrometer波长色散测量条件 元素 谱线 电压(kV) 电流(mA) 滤光片 分析晶体 准直器(μm) 探测器 脉高分析器 2θ(º) 低限 高限 峰值 背景 Na Kα12 30 120 None PX1 700 Flow 25 75 27.7034 1.8196 Mg Kα12 30 120 None PX1 700 Flow 28 72 22.9178 1.8228 Al Kα12 30 120 None PE 300 Flow 27 73 144.8636 -1.8032 Si Kα12 30 120 None PE 300 Flow 34 66 109.0776 1.5716 P Kα12 30 120 None Ge 300 Flow 30 67 140.9834 -1.1014 K Kα12 30 120 None LiF200 300 Flow 33 66 136.6882 -2.7074 Ca Kα12 30 120 None LiF200 300 Flow 33 66 113.1246 2.0476 Ti Kα12 60 60 Al/200 LiF200 300 Flow 37 62 86.1620 -1.3728 Mn Kα12 60 60 Al/200 LiF220 150 Flow 39 59 95.1696 1.5694 Fe Kα12 60 60 Al/200 LiF220 150 Scint 31 69 85.6652 -1.0046 V Kα12 60 60 Al/200 LiF220 300 Flow 26 69 123.1436 -0.6186 Cr Kα12 60 60 Al/200 LiF200 150 Flow 35 60 69.3302 0.8222 Se Kα12 60 60 None LiF200 300 Scint 19 78 31.8598 0.7874 能量色散测量条件 元素 谱线 能量 解谱类型 电压(kV) 电流(mA) 滤光片 衰减器 探测器 背景 感兴趣区(keV) 低限 高限 As Kβ13 11.72 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 11.47 11.83 Ba Kα12 32.06 ED-R 60 60 Brass/400 D=3.0 SDD Yes 31.57 32.58 Br Kα12 11.91 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 11.88 12.00 Cu Kα12 8.04 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 7.91 8.25 Ga Kα12 9.24 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 9.01 9.43 Ge Kα12 9.87 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 9.80 10.04 Ni Kα12 7.47 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 7.33 7.63 Pb Lβ1 12.61 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 12.36 12.87 Rb Kα12 13.37 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 13.16 13.60 Se Kα12 11.21 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 10.90 11.48 Sr Kα12 14.14 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 13.87 14.41 Ti Kα12 4.51 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 4.28 4.67 Y Kα12 14.93 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 14.95 15.24 Zn Kα12 8.63 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 8.45 8.81 Zr Kα12 15.75 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 15.40 16.07 Rh Kα12 19.18 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 18.32 19.83 1.4 校准曲线
采用1.1节的沉积物、土壤、多金属矿标准物质及配置的混合标准样品制作校准曲线,校准时充分考虑重叠谱线干扰,采用经验系数法校正,主量元素加入适当的基体校正,次量元素采用康普顿内标加经验系数法校正。
如前所述,其中混合标准样品是为了解决高含量Se标准物质不足的问题,用现有土壤标准物质与高硒多金属矿标准物质混合配置标准样品,丰富高含量Se的标准物质的数量,有效地降低由于多金属矿基体相差较大而造成的误差。表 2为配置的混合标准样品信息,具体步骤为:准确称取一定质量的土壤标准物质和多金属矿标准物质于玛瑙研钵中,加入少量乙醇润湿研磨10min以上,风干后于105℃烘干2h,再按1.2节步骤制备标准样片。
表 2 配置的混合标准样品信息Table 2. Information of mixed reference materials混合标准样品编号 采用的标准物质编号 称样质量(g) Se含量(μg/g) HC-Se1 GBW07280 4.0000 72.19 GBW07407 6.0000 HC-Se2 GBW07166 4.0017 32.54 GBW07449 6.0028 HC-Se3 GBW07268 4.0042 20.36 GBW07406 5.8799 HC-Se4 GBW07283 4.0002 12.24 GBW07401 5.5382 HC-Se5 GBW07278 4.0003 5.78 GBW07403 6.0002 2. 结果与讨论
2.1 方法检出限
采用参加校准的标准样品,通过仪器软件,按下列公式计算各元素的最大检出限(LOD) [32],计算结果见表 3。主量成分中最大检出限为Al2O3101.6μg/g,微量成分中最大检出限为Ba 3.75μg/g,能够满足常规土壤样品定量分析要求。
$ {\rm{LOD}} = \frac{{3\sqrt 2 }}{m}\sqrt {\frac{{{I_{\rm{b}}}}}{{{t_{\rm{b}}}}}} $
表 3 方法检出限Table 3. Detection limit of the methods元素 方法检出限(μg/g) 元素 方法检出限(μg/g) Na2O 33.03 As 0.41 MgO 17.33 Cu 1.25 Al2O3 101.6 Rb 0.83 SiO2 79.02 Sr 1.00 P2O5 5.93 Zr 0.97 K2O 6.17 Ba 3.75 TiO2 26.46 Se(能谱) 0.45 MnO 6.39 Se(波谱) 0.91 Fe2O3 6.28 Ni 1.69 式中:m为单位含量的峰位计数率;Ib为背景计数率;tb为峰值及背景的总测量时间。
由表 3可见,Se的能谱检出限为0.45μg/g,波谱检出限为0.91μg/g。如图 1所示,虽然在能谱图中Se Kα与Pb Lα(能谱中Pb Lα与As Kα完全重叠)、As Kβ可分开,但当As含量较高时由于Se Kα在As Kα与As Kβ之间,解谱会对低含量Se的分析造成较大误差,而波谱可以完全将谱线干扰分开,因此对于高含量Se,其波谱线性优于能谱线性(图 2),波谱RMS值为0.00035,小于能谱RMS值0.00051。在数值上,测定限是检出限的约3.3倍[33],因此该方法检出限可确定为0.91×3.3=3.003μg/g。通过对沉积物标准物质GBW07347(Se含量4.00μg/g)准确度的测定,也证明了在定量下限附近可以满足定量分析或半定量分析要求。
2.2 方法精密度
平行制备GBW07347和GBW07277各10个样片,采用本方法测定,方法精密度与准确度见表 4。可以看出,沉积物标样GBW07347中Se标准值为4μg/g,测定值平均为3.79μg/g,RSD小于10%,由于标准值的不确定度为1.0μg/g,证明该方法能够满足Se含量在4.00μg/g以上浓度的定量分析要求,接近3倍检出限(0.91μg/g,表 3)的定量下限。
表 4 方法精密度与准确度Table 4. Precision and accuracy tests of the method元素 GBW07347(n=10) GBW07277(n=10) 平均值(%) 标准值(%) RSD (%) 平均值(%) 标准值(%) RSD (%) Na2O 1.6 2.46 2.90 0.47 0.32 3.72 MgO 1.57 1.6 1.75 8.22 8.59 3.01 Al2O3 13.14 15.95 1.77 2.48 2.66 6.00 SiO2 49.65 51.24 0.74 15.43 13.74 1.64 P2O5 0.17 0.18 1.61 0.03 0.05 6.29 K2O 2.44 2.6 7.83 0.58 0.51 3.17 TiO2 0.76 0.75 2.95 0.23 0.1 7.88 MnO 0.09 0.09 1.89 0.06 0.06 1.81 Fe2O3 12.57 13.05 0.65 1.75 1.24 1.84 元素 GBW07347(n=10) GBW07277(n=10) 平均值(μg/g) 标准值(μg/g) RSD (%) 平均值(μg/g) 标准值(μg/g) RSD (%) As 15.43 24.2 8.17 94051 93300 0.31 Cu 6086 5000 1.06 249 140 1.53 Rb 77.69 52.7 1.35 20.68 无定值 5.88 Sr 429 399 0.66 477 无定值 0.92 Zr 136 134 2.04 - 无定值 - Ba 553 576 0.61 143 无定值 1.45 Se 3.79 4 9.44 26.05 28 0.61 Ni 2400 2390 1.11 - 33.6 - 2.3 方法准确度
2.3.1 标准物质分析
砷矿石标准物质GBW07277中Se标准值为28μg/g,按本测试方法测定的Se含量平均值为26.05μg/g,RSD为0.61%,按照规范DZ/T 0130—2006计算允许误差为0.84%,但标准值的不确定度为2.9μg/g,说明本文测试方法对高含量Se可以实现准确的定量分析。另外, 可以看出其他16个主次量元素的测定值基本上满足定量或半定量分析要求。
2.3.2 实际样品分析
利用本文方法(XRF)和AFS两种方法测定采自扬子北缘的湖北恩施地区两个高Se土壤样品,样品编号为Y29和Y45(因此次采样未能采集到更多高含量Se样品,仅以此两件具有代表性样品的数据予以说明)。该区内二叠系分布广泛且出露良好,上二叠统的硅质页岩因其生气潜力得到了学者的关注。在湖北建始县和利川市出露的孤峰组(P2g)和龙潭组(P2l)地层发育形成于晚二叠世的海相富有机质页岩,经地表风化成土作用,仍具有典型的富集U、Mo、V、Cr、W,且Cd、Ni、Se较高的特征。测定结果表明,Y29样品的XRF测定值为11.17μg/g,AFS测定值为12.82μg/g;Y45样品的XRF测定值为58.75μg/g,AFS测定值为61.09μg/g,两种分析方法的测定结果基本吻合。
3. 结论
本文建立了粉末压片X射线荧光光谱法分析高含量Se的分析方法。通过采用普通土壤、沉积物、多金属矿高Se国家标准物质以及配置的混合标准样品,扩大了土壤Se元素校准曲线的浓度范围,减少了基体效应的影响。通过普通沉积物和砷矿石国家标准物质考核,本文建立方法的精密度、准确度满足复杂基体中Se含量在3μg/g以上的定量分析要求,同时可提供其他16个主次量组分的定量或近似定量结果。
当然,对于矿石矿物样品中Se的测定,由于存在现有标准物质较少、基体差异较大等问题,仍需作进一步探讨。
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表 1 波长色散-能量色散X射线荧光光谱仪测量条件
Table 1 Measurement conditions of elements by WD-ED X-ray fluorescence spectrometer
波长色散测量条件 元素 谱线 电压(kV) 电流(mA) 滤光片 分析晶体 准直器(μm) 探测器 脉高分析器 2θ(º) 低限 高限 峰值 背景 Na Kα12 30 120 None PX1 700 Flow 25 75 27.7034 1.8196 Mg Kα12 30 120 None PX1 700 Flow 28 72 22.9178 1.8228 Al Kα12 30 120 None PE 300 Flow 27 73 144.8636 -1.8032 Si Kα12 30 120 None PE 300 Flow 34 66 109.0776 1.5716 P Kα12 30 120 None Ge 300 Flow 30 67 140.9834 -1.1014 K Kα12 30 120 None LiF200 300 Flow 33 66 136.6882 -2.7074 Ca Kα12 30 120 None LiF200 300 Flow 33 66 113.1246 2.0476 Ti Kα12 60 60 Al/200 LiF200 300 Flow 37 62 86.1620 -1.3728 Mn Kα12 60 60 Al/200 LiF220 150 Flow 39 59 95.1696 1.5694 Fe Kα12 60 60 Al/200 LiF220 150 Scint 31 69 85.6652 -1.0046 V Kα12 60 60 Al/200 LiF220 300 Flow 26 69 123.1436 -0.6186 Cr Kα12 60 60 Al/200 LiF200 150 Flow 35 60 69.3302 0.8222 Se Kα12 60 60 None LiF200 300 Scint 19 78 31.8598 0.7874 能量色散测量条件 元素 谱线 能量 解谱类型 电压(kV) 电流(mA) 滤光片 衰减器 探测器 背景 感兴趣区(keV) 低限 高限 As Kβ13 11.72 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 11.47 11.83 Ba Kα12 32.06 ED-R 60 60 Brass/400 D=3.0 SDD Yes 31.57 32.58 Br Kα12 11.91 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 11.88 12.00 Cu Kα12 8.04 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 7.91 8.25 Ga Kα12 9.24 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 9.01 9.43 Ge Kα12 9.87 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 9.80 10.04 Ni Kα12 7.47 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 7.33 7.63 Pb Lβ1 12.61 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 12.36 12.87 Rb Kα12 13.37 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 13.16 13.60 Se Kα12 11.21 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 10.90 11.48 Sr Kα12 14.14 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 13.87 14.41 Ti Kα12 4.51 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 4.28 4.67 Y Kα12 14.93 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 14.95 15.24 Zn Kα12 8.63 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 8.45 8.81 Zr Kα12 15.75 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 15.40 16.07 Rh Kα12 19.18 ED-R 60 60 Al/200 D=0.6 SDD Yes 18.32 19.83 表 2 配置的混合标准样品信息
Table 2 Information of mixed reference materials
混合标准样品编号 采用的标准物质编号 称样质量(g) Se含量(μg/g) HC-Se1 GBW07280 4.0000 72.19 GBW07407 6.0000 HC-Se2 GBW07166 4.0017 32.54 GBW07449 6.0028 HC-Se3 GBW07268 4.0042 20.36 GBW07406 5.8799 HC-Se4 GBW07283 4.0002 12.24 GBW07401 5.5382 HC-Se5 GBW07278 4.0003 5.78 GBW07403 6.0002 表 3 方法检出限
Table 3 Detection limit of the methods
元素 方法检出限(μg/g) 元素 方法检出限(μg/g) Na2O 33.03 As 0.41 MgO 17.33 Cu 1.25 Al2O3 101.6 Rb 0.83 SiO2 79.02 Sr 1.00 P2O5 5.93 Zr 0.97 K2O 6.17 Ba 3.75 TiO2 26.46 Se(能谱) 0.45 MnO 6.39 Se(波谱) 0.91 Fe2O3 6.28 Ni 1.69 表 4 方法精密度与准确度
Table 4 Precision and accuracy tests of the method
元素 GBW07347(n=10) GBW07277(n=10) 平均值(%) 标准值(%) RSD (%) 平均值(%) 标准值(%) RSD (%) Na2O 1.6 2.46 2.90 0.47 0.32 3.72 MgO 1.57 1.6 1.75 8.22 8.59 3.01 Al2O3 13.14 15.95 1.77 2.48 2.66 6.00 SiO2 49.65 51.24 0.74 15.43 13.74 1.64 P2O5 0.17 0.18 1.61 0.03 0.05 6.29 K2O 2.44 2.6 7.83 0.58 0.51 3.17 TiO2 0.76 0.75 2.95 0.23 0.1 7.88 MnO 0.09 0.09 1.89 0.06 0.06 1.81 Fe2O3 12.57 13.05 0.65 1.75 1.24 1.84 元素 GBW07347(n=10) GBW07277(n=10) 平均值(μg/g) 标准值(μg/g) RSD (%) 平均值(μg/g) 标准值(μg/g) RSD (%) As 15.43 24.2 8.17 94051 93300 0.31 Cu 6086 5000 1.06 249 140 1.53 Rb 77.69 52.7 1.35 20.68 无定值 5.88 Sr 429 399 0.66 477 无定值 0.92 Zr 136 134 2.04 - 无定值 - Ba 553 576 0.61 143 无定值 1.45 Se 3.79 4 9.44 26.05 28 0.61 Ni 2400 2390 1.11 - 33.6 - -
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