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熔融制样X射线荧光光谱法测定含硫量高的石膏矿物中主次量元素

魏灵巧, 宋红元, 易达, 罗磊, 付胜波, 黄瑞成

魏灵巧, 宋红元, 易达, 罗磊, 付胜波, 黄瑞成. 熔融制样X射线荧光光谱法测定含硫量高的石膏矿物中主次量元素[J]. 岩矿测试, 2015, 34(4): 448-453. DOI: 10.15898/j.cnki.11-2131/td.2015.04.012
引用本文: 魏灵巧, 宋红元, 易达, 罗磊, 付胜波, 黄瑞成. 熔融制样X射线荧光光谱法测定含硫量高的石膏矿物中主次量元素[J]. 岩矿测试, 2015, 34(4): 448-453. DOI: 10.15898/j.cnki.11-2131/td.2015.04.012
Ling-qiao WEI, Hong-yuan SONG, Da YI, Lei LUO, Sheng-bo FU, Rui-cheng HUANG. Determination of Major and Minor Elements in High-S Gypsum Mine by X-ray Fluorescence Spectrometry with Fusion Sample Preparation[J]. Rock and Mineral Analysis, 2015, 34(4): 448-453. DOI: 10.15898/j.cnki.11-2131/td.2015.04.012
Citation: Ling-qiao WEI, Hong-yuan SONG, Da YI, Lei LUO, Sheng-bo FU, Rui-cheng HUANG. Determination of Major and Minor Elements in High-S Gypsum Mine by X-ray Fluorescence Spectrometry with Fusion Sample Preparation[J]. Rock and Mineral Analysis, 2015, 34(4): 448-453. DOI: 10.15898/j.cnki.11-2131/td.2015.04.012

熔融制样X射线荧光光谱法测定含硫量高的石膏矿物中主次量元素

基金项目: 

中国地质大调查项目——地质实验测试技术研发示范与应用“湖北云应地区膏盐矿分析方法与技术体系研究”(12120113015800)

详细信息
    作者简介:

    魏灵巧, 硕士, 工程师, 从事岩石矿物分析工作.E-mail:smartcc@126.com

  • 中图分类号: O657.34;P578.72

Determination of Major and Minor Elements in High-S Gypsum Mine by X-ray Fluorescence Spectrometry with Fusion Sample Preparation

  • 摘要: X射线荧光光谱法(XRF)已经应用于石膏等非金属矿物的测定, 但由于石膏标准物质匮乏、硫含量较高且在高温易挥发损失, 给测定带来了一定困难。本文采用石膏标准物质、高纯硫酸钙和其他国家一级标准物质(土壤、水系沉积物、碳酸盐)配制人工标准物质拟合校准曲线, 优化稀释比、熔矿温度等熔融制样条件, 用理论α系数校正基体效应, 建立了采用XRF同时测定石膏矿中10个主次量元素(硅铝铁钙镁钾钠钛硫锶)的分析方法。样品与四硼酸锂-偏硼酸锂熔剂的稀释比为1:9, 在1050℃温度下样品熔融完全。方法检出限为4~135 μg/g, 精密度(RSD, n=12) 小于3.0%。本方法配制的人工校准样品加强了样品基体的适应性, 使用的四硼酸锂-偏硼酸锂熔剂在样品熔融过程中可有效地结合硫, 抑制了硫的挥发损失, 适用于批量分析硫含量高达12.60%~51.91%的实际石膏矿物。

  • 石膏是非金属矿产的典型代表,因其具有高强度、高绝缘性、耐高温、耐酸碱等诸多优良的理化性能,广泛应用于建筑、化工和中医等诸多领域。石膏已成为我国重点发展的非金属矿物之一,其中一些元素的含量对其品质有一定影响。例如Ca、S的含量是判别石膏品级的主要依据,建筑用石膏对Si、Al、K、Na的含量要求较高,硫酸工业中所用石膏对Mg的含量有限制,用于制造模型的石膏对Fe、Ti等元素的含量,医用石膏对微量元素Sr的含量都有要求。因此,准确测定石膏中主次量元素的含量对于石膏矿石的开发利用具有十分重要的意义。

    石膏的成分分析通常采用化学法,如S用重量法测定,Ca、Mg、Al用EDTA容量法测定,Si、Fe用分光光度法测定。化学法的分析周期长、操作繁琐、试剂用量大。相比之下,X射线荧光光谱法(XRF)因绿色环保、制样简单、分析速度快,在主次量元素同时分析方面一直具有显著的技术优势。非金属矿物的XRF分析技术已有报道,但鲜有应用于石膏的报道。应用XRF分析非金属矿物时,通常采用熔融法制备样品[1, 2, 3],既能够消除矿物效应和粒度效应,降低基体的影响,还可以避免粉末制样法因粉末散落对X光管和试样室清洁度及真空度的影响[4, 5]。考虑到硫元素在高温下熔融时会挥发,袁秀茹等[6]分析白云岩采用粉末压片法对硫进行测试,其他元素则采用熔融法制样;刘江斌等[7]测定石灰石也是采用粉末压片法对硫进行测试,其他元素则采用熔融法制样。但是压制相应的样品需要更多的分析步骤,增加了工作量。李国会等[8]选用四硼酸锂-偏硼酸锂熔剂并加入硝酸锂氧化剂在1000℃熔融制样,防止了硫的熔融损失,而且能使各类岩石样品制成高质量的玻璃样片;宋义等[9]也采用四硼酸锂-偏硼酸锂并加入硝酸锂氧化剂在1000℃熔融制样,有效地降低了熔点,避免了熔融制样过程中硫的挥发;应晓浒等[10]采用四硼酸锂-偏硼酸锂在1000℃制备氟石熔融片,有效地抑制了样品中硫的挥发;李红叶等[11]采用四硼酸锂-偏硼酸锂在1050℃熔融制备样品,用XRF测定磷矿石中包括硫在内的13种主次量组分,取得了较好的分析结果。但是上述文献中硫元素的测定范围(0.01%~10.00%)比较窄,无法满足石膏中高含量硫(25.58%~58.82%)的测定需求。此外,石膏标准物质匮乏,难以建立适合各元素测量范围和梯度的标准曲线。

    针对应用XRF分析石膏存在标准物质匮乏和硫含量较高在高温易挥发损失的问题,本文采用高纯硫酸钙、石膏标准物质与土壤、岩石、水系沉积物、碳酸盐等标准物质配制相应的人工标准物质;选用四硼酸锂-偏硼酸锂熔剂熔融制备石膏样品,有效地抑制样品中硫的挥发,同时消除样品的粒度效应和矿物效应,建立了XRF测定石膏矿中10个主次量元素(硅铝铁钙镁钾钠钛硫锶)的分析方法。

    Axios PW型波长色散X射线荧光光谱仪(荷兰帕纳科公司),最大功率4.0 kW,最大激发电压60 kV,最大电流125 mA,SST超尖锐陶瓷端窗(75 μm)铑钯X射线光管,样品交换器一次最多可放68个样品(直径32 mm),SuperQ 5.0高级智能化操作软件。各元素的测量条件见表 1。

    表  1  分析元素的测量条件
    Table  1.  Measurement conditions of the elements by XRF
    元素分析
    谱线
    分析
    晶体
    准直器
    (μm)
    探测器电压
    (kV)
    电流
    (mA)
    2θ(°)PHD范围
    峰值背景1背景2
    SiPE 002300Flow30120109.07822.3010-24~78
    AlPE 002300Flow30120144.86642.4946-1.881822~78
    FeLiF 200150Duplex606057.51060.8464-15~72
    CaLiF 200150Flow30120113.11561.6210-29~73
    MgPX1700Flow3012022.55201.6984-2.065435~65
    KLiF 200300Flow30120136.69702.0160-31~74
    NaPX1700Flow3012027.28382.2178-1.774235~72
    TiLiF 200300Flow606086.1606-1.4094-27~71
    SGe 111300Flow30120110.66982.6996-35~65
    SrLiF 200150Scint606025.13320.6856-22~78
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    Front-Ⅱ电热式熔片机(国家地质实验测试中心 & 北京卓信博澳仪器有限公司研制):一次可以同时熔融4个玻璃片。

    铂黄合金坩埚(95% Pt+5% Au):用于制备熔融玻璃片。

    四硼酸锂-偏硼酸锂(质量比22:12) 熔剂:高纯试剂(张家港市火炬分析仪器厂生产),在650℃马弗炉内烘4 h,冷却备用。

    饱和溴化锂溶液(脱模剂)。

    准确称取0.6500 g样品和5.8500 g四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂于瓷坩埚中,搅拌均匀,倒入铂黄合金坩埚中,加入1滴饱和溴化锂溶液,放入已升温至1050℃的熔样机中按照设定程序全自动熔融玻璃片。熔样程序为:样品预熔2 min,上举1.5 min,摆平0.5 min,往复4次(在此期间熔样机内部不停旋转)后取出,冷却后贴标签放入干燥器待测。

    由于地质样品基体复杂,测量结果易受基体效应的影响,因此在XRF分析中保持基体的一致性是准确分析的重要因素。依据石膏矿物组分特征及含量范围,本研究采用高纯硫酸钙、石膏标准物质(GBW03109a、GBW03111a)与土壤(GBW07401~GBW07411)、岩石(GBW07101~GBW07112)、水系沉积物(GBW07301~GBW07302)、碳酸盐岩(GBW07127~GBW07136) 国家一级标准物质,配制相应的人工标准样品SG1~SG12。各元素的含量范围(%)为:SiO2 0.295~36.59,Al2O3 0.042~14.98,Fe2O3 0.036~13.40,CaO 10.00~49.24,MgO 0.173~13.00,K2O 0.006~1.52,Na2O 0.005~1.84,TiO2 0.002~4.13,SO3 12.60~51.91,SrO 0.002~0.183。

    熔样之前需要选定合适的熔剂,以使熔剂和石膏样品的酸度相适宜,本研究根据能量最低原理[12]选定适合熔融石膏样品的四硼酸锂-偏硼酸锂(质量比22:12) 作为熔剂。

    石膏样品中的待测元素含量相差较大,为了准确测量,对样品与熔剂的稀释比(样品与熔剂的质量比)进行了试验。低倍稀释时,样品流动性较差;高倍稀释时,样品中低含量元素强度太低,精密度较差。本研究最终选择m(样品):m(熔剂)=1:9的稀释比熔融样品,所制备的样品均匀、浓度适中、能够兼顾不同元素、不同含量的测定。

    称取5件不同含量的石膏样品,分别在950℃、1000℃、1050℃、1100℃、1150℃温度下按1.2节所述实验方案熔融样品,样品熔融情况见表 2。可以看出,样品在1050℃以上时均能熔清。

    表  2  不同温度下样品的熔融情况
    Table  2.  The melting effect of samples at different temperatures
    样品编号950℃1000℃1050℃1100℃1150℃
    样品1有不熔物熔清熔清熔清熔清
    样品2有不熔物熔清熔清熔清熔清
    样品3有不熔物熔清熔清熔清熔清
    样品4有不熔物有不熔物熔清熔清熔清
    样品5有不熔物熔清熔清熔清熔清
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    在高温下熔融含硫的矿物时,会出现硫损失和热稳定性的问题。因此称取石膏标准物质GBW03109a和GBW03111a分别在1050℃、1100℃、1150℃、1200℃、1250℃温度下熔融并进行硫的荧光强度测定,结果表明温度在1050~1150℃范围内,硫的荧光强度变化不大,分别在226~229 kcps(GBW03109a)、172~176 kcps(GBW03111a)之间波动;在1200℃时,硫的荧光强度明显减弱,到1250℃时,硫的荧光强度分别降至106 kcps(GBW03109a)、102 kcps(GBW03111a)。这表明当温度不高于1150℃时,石膏矿中的硫在熔融过程中基本没有挥发损失,可能是因为石膏中的硫主要以硫酸盐形式存在,可以在此温度下保持稳定[13, 14, 15];另外,熔剂中含有碱性的偏硼酸锂能够很好地结合强酸性的SO3,从而将硫保留在玻璃熔片中。考虑到高温时熔样机和铂黄合金坩埚的损耗较大,故选择熔矿温度为1050℃。

    用熔融法制样虽然消除了粒度、矿物效应及减小了基体效应,但由于石膏中各组分的含量变化很大,仍需采用理论α系数进行基体效应校正。校正公式如下:

    式中:wi为未知样品中分析元素i的含量;Di为分析元素i校准曲线的截矩;Lik为干扰元素k对分析元素i的谱线重叠干扰校正系数;Zk为干扰元素k的含量或计数率;Ei为分析元素i校准曲线的斜率;Ri为分析元素i的计数率;Zj为共存元素j的含量;n为共存元素j的数目;α为基体校正因子;i、j和k分别为分析元素、共存元素和干扰元素。

    标准化样品用来修正环境条件及仪器的微小变化对分析结果的影响。标准化样品的含量过高,其计数率高,在校正系数中不能很好地反映仪器的较大变化;标准化样品的含量太低,其计数率低,校正系数会扩大仪器的微小变化,从而造成较大的分析误差。漂移校正样品可单独准备,制备方法与样品制备方法相同,也可直接从绘制标准曲线的标准样品中选取,本文直接从标准样品中选取一个含量适中的样品作为标准化样品,每次校准前制备标准化样品。

    根据分析元素的测量时间,按下列公式计算各元素的检出限(LOD),计算结果见表 3。

    表  3  方法检出限
    Table  3.  Detection limits of the method
    元素检出限(μg/g)元素检出限(μg/g)
    本法相关方法本法相关方法
    SiO213542~400K2O1835~400
    Al2O312677~400Na2O7589~400
    Fe2O31718~400TiO22561~500
    MgO3098~283SO37692
    CaO79181~500SrO46~61
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    式中:m为单位含量的计数率;Ib为背景计数率;t为峰值及背景的总测量时间。

    从表 3可以看出,方法检出限为4~135 μg/g,基本低于相关方法的检出限,可以满足石膏样品中主次量元素的测试需求。

    一个样品多次制样和多次测量的结果稳定性反映了分析方法的可行性以及制样过程的可重复性和可操作性。采用玻璃熔片法对一个石膏样品重复制备12个样片,按表 1的测量条件分别对12个样片进行测量,然后将其中的一个样片重复测量12次。由表 4分析结果可知,仪器精密度(RSD)均低于1%;除了含量较低的Na2O、TiO2、SrO等元素的RSD不高于3%以外,其余元素的RSD均低于1%,能够满足实际样品的分析需求。

    表  4  方法精密度
    Table  4.  Precision tests of the method
    元素仪器精密度方法精密度
    12次测定平均值
    (%)
    RSD
    (%)
    12次测定平均值
    (%)
    RSD
    (%)
    SiO27.280.27.240.4
    Al2O31.990.21.950.4
    Fe2O30.600.30.620.4
    MgO4.940.24.980.9
    CaO28.620.128.380.5
    K2O0.360.30.390.3
    Na2O0.0191.00.0232.4
    TiO20.1010.60.0991.6
    SO332.740.0432.580.4
    SrO0.0730.30.0771.6
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    利用本文建立的方法,测定不参加回归的石膏标准物质GBW03110和GBW03110与其他标准物质所配制的人工校准样品SG13,表 5的分析结果表明,测量值与标准值基本一致,可以满足石膏中主次量元素的定量要求。

    表  5  标准物质分析结果
    Table  5.  Analytical results of elements in national and synthetic reference materials
    元素国家标准物质GBW03110人工校准样品SG-13
    标准值
    (%)
    本法测定值
    (%)
    参考值
    (%)
    本法测定值
    (%)
    SiO27.217.2223.2223.41
    Al2O31.921.957.127.11
    Fe2O30.630.622.772.69
    MgO4.924.994.024.05
    CaO28.5028.3219.9219.68
    K2O0.380.401.541.51
    Na2O0.0210.0220.120.11
    TiO20.100.0990.270.28
    SO332.5532.6922.5422.41
    SrO0.0710.0770.0520.050
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    本研究建立了采用熔融制样X射线荧光光谱仪测定石膏中钙、硫、硅等主次量元素的分析方法。针对硫含量在12.60%~51.91%之间的石膏样品,使用四硼酸锂-偏硼酸锂(质量比22:12) 熔剂可以在熔融过程中有效结合石膏中的硫,抑制了硫在高温下的挥发。选择石膏、高纯硫酸钙和其他标准物质配制成相应的人工校准样品,有效地解决了石膏标准物质缺乏的问题,同时加强了样品基体的适应性。采用高温熔融制样结合理论α系数消除矿物效应、粒度效应以及校正谱线重叠干扰和基体效应,满足了地质样品批量分析测试的需要,尤其是在非金属矿物分析领域具有良好的推广应用价值。

  • 表  1   分析元素的测量条件

    Table  1   Measurement conditions of the elements by XRF

    元素分析
    谱线
    分析
    晶体
    准直器
    (μm)
    探测器电压
    (kV)
    电流
    (mA)
    2θ(°)PHD范围
    峰值背景1背景2
    SiPE 002300Flow30120109.07822.3010-24~78
    AlPE 002300Flow30120144.86642.4946-1.881822~78
    FeLiF 200150Duplex606057.51060.8464-15~72
    CaLiF 200150Flow30120113.11561.6210-29~73
    MgPX1700Flow3012022.55201.6984-2.065435~65
    KLiF 200300Flow30120136.69702.0160-31~74
    NaPX1700Flow3012027.28382.2178-1.774235~72
    TiLiF 200300Flow606086.1606-1.4094-27~71
    SGe 111300Flow30120110.66982.6996-35~65
    SrLiF 200150Scint606025.13320.6856-22~78
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    表  2   不同温度下样品的熔融情况

    Table  2   The melting effect of samples at different temperatures

    样品编号950℃1000℃1050℃1100℃1150℃
    样品1有不熔物熔清熔清熔清熔清
    样品2有不熔物熔清熔清熔清熔清
    样品3有不熔物熔清熔清熔清熔清
    样品4有不熔物有不熔物熔清熔清熔清
    样品5有不熔物熔清熔清熔清熔清
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    表  3   方法检出限

    Table  3   Detection limits of the method

    元素检出限(μg/g)元素检出限(μg/g)
    本法相关方法本法相关方法
    SiO213542~400K2O1835~400
    Al2O312677~400Na2O7589~400
    Fe2O31718~400TiO22561~500
    MgO3098~283SO37692
    CaO79181~500SrO46~61
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    表  4   方法精密度

    Table  4   Precision tests of the method

    元素仪器精密度方法精密度
    12次测定平均值
    (%)
    RSD
    (%)
    12次测定平均值
    (%)
    RSD
    (%)
    SiO27.280.27.240.4
    Al2O31.990.21.950.4
    Fe2O30.600.30.620.4
    MgO4.940.24.980.9
    CaO28.620.128.380.5
    K2O0.360.30.390.3
    Na2O0.0191.00.0232.4
    TiO20.1010.60.0991.6
    SO332.740.0432.580.4
    SrO0.0730.30.0771.6
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    表  5   标准物质分析结果

    Table  5   Analytical results of elements in national and synthetic reference materials

    元素国家标准物质GBW03110人工校准样品SG-13
    标准值
    (%)
    本法测定值
    (%)
    参考值
    (%)
    本法测定值
    (%)
    SiO27.217.2223.2223.41
    Al2O31.921.957.127.11
    Fe2O30.630.622.772.69
    MgO4.924.994.024.05
    CaO28.5028.3219.9219.68
    K2O0.380.401.541.51
    Na2O0.0210.0220.120.11
    TiO20.100.0990.270.28
    SO332.5532.6922.5422.41
    SrO0.0710.0770.0520.050
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出版历程
  • 收稿日期:  2014-07-03
  • 修回日期:  2015-05-04
  • 录用日期:  2015-07-07
  • 发布日期:  2015-04-24

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